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功率循环 测试系统半导体测试
系统概述：该系统是一套动态综合测试系统、测试参数多、精度高、具有过流、过热、水压不足等保护功能。具有连续工作的特点，测试
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2023-11-25 |
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晶闸管、IGCT 动态参数测试系统
系统概述：本设备适用于模块及平板型晶闸管及整流管断态电压临界上升率、通态峰值电压、关断时间、恢复电荷以及反向恢复电流和反
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2023-11-23 |
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DBC-112 可控硅 静态综合测试设备
系统概述：针对晶闸管的静态参数而研发的智能测试设备，电压8500V、10000A（可扩展），自动化程度高，按照操作人员设定的程序自
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2023-11-22 |
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IGBT 动态参数测试系统
系统概述：IGBT广泛应用于现代中、大功率变换器中，其开关特性决定装置的开关损耗、功率密度、器件应力以及电磁兼容性，直接影响
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2023-11-16 |
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功率器件 图示系统
系统概述：ENJ2005-C是一款很具有代表性的新型半导体功率器件图示系统，系统IV曲线自动生成，也可根据实际需求设置功能测试，直
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2023-11-16 |
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半导体 分立器件测试系统
系统概述：设备的扩展性强，通过选件可提高电流、电压以及测试品种的范围。支持电压电流阶梯升级至2000V，1250A。采用了脉冲测试
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2023-11-16 |
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高温阻断 测试设备 DBC-249
系统概述：本测试设备可对晶闸管、整流管的电耐久性进行试验，测试设备主要技术条件符合JB/T-7626-2013等相关标准。保证设备的安
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2023-11-16 |
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DBC-102 浪涌电流 测试系统
系统概述：浪涌电流测试仪，是二极管等相关半导体器件测试的重要检测设备，浪涌电流是指电源接通瞬间或是在电路出现异常情况下产
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2023-11-16 |
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